電気抵抗が高いデバイスの壁を突破、二次元量子ドットの新たな高速測定手法

東北大学は、二次元量子ドットの新たな高速測定手法を開発しました。電気抵抗が高い二次元材料量子デバイスでも、高周波反射測定により高速・高感度な読み出しが可能であることを実証しました。